
您的位置:網(wǎng)站首頁 > 技術文章 > 2026 實驗室儀器選型指南:顯微、原位、清潔度、原子制造一站配齊 近年來,實驗室建設的重點正在從“補齊設備"轉向“完善能力結構"。二維觀察已難以滿足復雜材料研究需求;單一表征手段越來越難解釋多尺度問題;單純檢測能力,也無法支撐高水平的材料設計與工藝優(yōu)化。對于高校科研和企業(yè)研發(fā)部門而言,儀器選型不僅影響實驗效率,更直接影響研究深度與技術轉化節(jié)奏。本文將圍繞四大技術模塊,梳理 2026 年值得關注的實驗室能力方向與選型思路。
PART ONE 顯微成像
顯微成像技術已經(jīng)不再只是展示材料表面形貌的工具,而是理解微觀結構與功能關系的基礎平臺。
01 Phenom 飛納臺式掃描電鏡
2025年,飛納電鏡產品全面升級迭代,持續(xù)為中國 2500+ 用戶帶來更智能、更高效、更可靠的顯微分析體驗!覆蓋數(shù)百所高校、中科院等科研院所、政府機構,以及新能源、生命科學等多個工業(yè)領域。應用研究涵蓋金屬與合金、電池、地質與考古、高分子材料、靜電紡絲、陶瓷與復合材料、生物醫(yī)學、微生物等多個前沿與交叉學科。
飛納電鏡采用臺式一體化設計,具備防震能力,對安裝環(huán)境要求低。操作流程高度簡化,適配不同經(jīng)驗層級的用戶。同時,飛納電鏡支持拓展 EBL 功能,自主編程功能,原位拉伸/壓縮功能,原位加熱/冷凍功能,樣品真空轉移等,亦可進行定制化滿足科研與工業(yè)應用的多樣化需求。
值得一提的是,Phenom AI 智能掃描電鏡,支持全流程自動成像和自由編程(PPI)功能(適配所有飛納型號),為微觀世界的探索帶來了自由度和無限可能。

02 Technoorg Linda 離子研磨儀
Technoorg Linda SEMPREP SMART 配備了高能量和可選的低能量氬離子槍。用于掃描電子顯微鏡(SEM)和電子背散射衍射(EBSD)樣品的最終加工和清潔。離子加工可以改進和清潔機械拋光的 SEM 樣品,并為 EBSD 分析制備無損表面。

產品特點:
氬離子束無應力處理樣品
定位精準:可實現(xiàn) ±1 微米
離子槍能量:0-16kV
超大樣品腔室:可容納直徑 50mm 樣品
制冷設計:液氮 LN2 制冷
可選配真空轉移功能
03 Neoscan 高分辨顯微CT
NEOSCAN 臺式顯微 CT 經(jīng)過四十年技術沉淀,以精密機械結構與智能圖像重建算法為核心,在臺式機體積下實現(xiàn)高達 40nm 的像素分辨率,高性能三維無損成像的特性受到眾多高校科研與企業(yè)用戶青睞!它無需切割或制備即可直接觀察材料和生物樣品內部結構,一次掃描即可獲得形貌、裂紋、孔隙、界面及定量信息。

產品特點
性能出眾:臺式納米 CT,最小體素尺寸高達 40nm !
為大尺寸、高密度物體設計,輕松掃描 32*54 cm 超大樣品!
臺式設計,不挑安裝環(huán)境,操作簡單,便于設備安裝使用
閉管透射式 X 射線管設計,無需抽真空,無需定期換燈絲,設備免維護
軟件免費,整合了掃描、重構、計算、輸出模型等多種功能
選配件豐富,可選配力學樣品臺、溫控樣品臺、自動進樣系統(tǒng)、XRF成分分析系統(tǒng)等
04 原子力顯微鏡系列
1 AFM-SEM 聯(lián)用


2 ICSPI 原子力顯微鏡
ICSPI 在原子力顯微鏡系統(tǒng)設計、探針控制與納米級表征技術方面擁有深厚的技術積累。其 AFM 產品以高穩(wěn)定性、高重復性及靈活的模塊化架構著稱,廣泛應用于半導體器件表征、薄膜與納米材料研究、精密表面形貌分析等領域。


PART TWO 透射電鏡原位分析
材料性能往往來源于動態(tài)過程。DENSsolutions 原位樣品桿,使研究者可以在加熱、電場或氣氛環(huán)境下觀察結構變化,配合 Technoorg Linda TEM 精修設備,可以提高樣品質量與實驗穩(wěn)定性。原位技術的價值,在于讓研究更貼近真實工作狀態(tài)。
01 DENSsolutions TEM 原位樣品桿
DENSsolutions 作為原位 TEM 領域的品牌,憑借高穩(wěn)定性芯片與完整的加熱、熱電、氣相、液相和冷凍解決方案,為原位實驗提供高可重復性與定量控制,目前已應用于國內 100 余所高校和科研院所。
產品特點:
研發(fā)實力強,技術團隊來自代爾夫特理工大學
高精度動態(tài)環(huán)境控制,引入氣體、液體、熱、電、冷凍等環(huán)境刺激
模塊化設計,配置靈活,便于清理、替換以及跨平臺表征
芯片獨特性,MEMS 設計是其核心技術
在動態(tài)實驗條件下保持高分辨率成像并且允許實時觀察和分析
02Technoorg Linda TEM 樣品制備
Technoorg Linda 的離子減薄儀、離子精修儀配備了超高能離子槍和低能離子槍,通過控制離子束的能量和角度,可對樣品進行快速研磨及表面精細加工和最終拋光。



PART Thre 清潔度
在鋰電、汽車、鋼鐵與半導體等制造領域,微米級顆粒與非金屬夾雜物已成為影響可靠性、良率與產品壽命的關鍵因素。清潔度不再只是檢測項目,而是企業(yè)核心競爭力的重要組成部分。
鋰電清潔度
鋰電池中的銅、鋅、鐵等金屬異物可能導致嚴重的安全事故,對金屬異物的管控也已成為行業(yè)共識。飛納電鏡 ParticleX Battery 全自動鋰電清潔度分析系統(tǒng),基于掃描電鏡 + 能譜法可自動識別、分析和統(tǒng)計銅、鋅、鐵等金屬異物,進而幫助分析異物來源,改善生產條件,減少安全事故的發(fā)生。

汽車清潔度





PART Four 原子制造
近年來,材料性能的突破越來越依賴界面調控與納米尺度結構設計。傳統(tǒng)宏觀工藝已難以滿足對精度與一致性的要求,研究與研發(fā)的重心逐漸下沉至原子與納米尺度。復納原子制造產品線聚焦新型原子層沉積(ALD)與納米沉積打印技術方案,賦能微納產業(yè)前沿發(fā)展。

ALD 產品線
01 Forge Nano 粉末原子層沉積系統(tǒng)
表面包覆作為提升粉末物理化學性能的重要手段,長期以來一直缺乏有效的精密手段。與傳統(tǒng)的表面改性不同,PALD 是真正可以實現(xiàn)原子級/分子層級控制精度的粉末涂層技術,并保持良好的共形性。Forge Nano 經(jīng)過多年研發(fā),已經(jīng)開發(fā)出低成本的規(guī)模化粉末原子層沉積包覆技術,目前已廣泛應用于鋰電、催化、金屬、制藥等領域。
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納米沉積打印產品線
01 VSParticle 干法納米沉積打印系統(tǒng)
VSParticle 是一家納米材料制造創(chuàng)新企業(yè),憑借火花燒蝕與干法沉積平臺,實現(xiàn)了高質量、可定制化的納米結構材料的規(guī)模化制備。其技術已廣泛應用于能源存儲、傳感器、催化等領域。



02 Tera Print 桌面式無掩模蘸筆光刻/打印系統(tǒng)
Tera Print 桌面光刻系統(tǒng)采用光束筆光刻技術(BPL),高度并行、無需光刻掩模,它克服了衍射極限,能夠在平方厘米區(qū)域內快速創(chuàng)建任意圖案,特征分辨率低至 250nm。作為桌面納米光刻打印機,比以往更快更經(jīng)濟地原型制造和生產納米結構表面與器件。結合了 DMD 無掩模光刻/聚束筆光刻/打印的新一代桌面式微納制造系統(tǒng),可將線寬控制低至 250nm。

產品特點
精密多波長光學器件:高功率均勻照明,紫外至可見光自由定制
亞衍射分辨率 < 250 納米,微米級圖案 >1.25 微米輕松實現(xiàn)
智能數(shù)字光掩模:任意圖案化,納米至厘米級設計即改即用
高效自動對準:快速重復定位,實現(xiàn)均勻圖案表面
輕松控制:直觀操作,幾小時即可掌握全程納米加工
電話4008578882
傳真
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